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產品名稱：掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II
產品型號：
產品廠商：日立(Hitachi)

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簡單介紹：

上海鑄金分析儀器有限公司可為用戶提供掃描電子顯微鏡品牌、型號、價格相關技術交流。本頁面展示的是日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II，含參考圖片、簡介、規(guī)格。相關信息僅供參考，如有相關儀器需求，可聯系鑄金交流。

詳情介紹：

FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節(jié)功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現直觀的視野移動。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率
憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現高的畫質
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
*1 設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離
*2 選項

日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II規(guī)格：

項目	內容
分辨率*3	4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式）
加速電壓	0.3 kV～20 kV
倍率	×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率）
低真空設置	6～100 Pa
電子槍	預對中鎢燈絲電子槍
樣品臺	3軸馬達驅動樣品臺 X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 大可觀察范圍：直徑64mm（R聯用）*4
大樣品尺寸	直徑80 mm（選配：直徑153mm）
大樣品高度	40 mm
尺寸	機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進深）×450（高度） mm
選項	高度低真空檢測器（UVD2.0）能量色散型X射線檢測器（EDS）
軟件	Multi Zigzag（連續(xù)視野圖像導入功能）

*PC、桌子、監(jiān)控器由客戶準備

*3機體和電源盒連接時候

*4使用標準支架時

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產品名稱：掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II